欢迎来到青岛森纳瑞精密仪器有限公司网站!
产品详情
首页 > 产品中心 > 三坐标测量机 > 雷顿三坐标 > LS系列高精度激光扫描测头

LS系列高精度激光扫描测头

描述:采点间隔为30微米真实还原精密微小零件的三维形貌精度可达12微米,同类产品精度较优,可用于精密零件的检测。相机宽增益范围调节,自动适应不同颜色,不同光泽的物体,而无需对物体表面进行处理。

更新时间:2023-12-12
访问次数:289
厂商性质:代理商
详情介绍
采点间隔为30微米
真实还原精密微小零件的三维形貌
精度可达12微米,同类产品精度较优,可用于精密零件的检测。
相机宽增益范围调节,自动适应不同颜色,不同光泽的物体,而无需对物体表面进行处理。

 
 

留言框

  • 产品:

  • 您的单位:

  • 您的姓名:

  • 联系电话:

  • 常用邮箱:

  • 省份:

  • 详细地址:

  • 补充说明:

  • 验证码:

    请输入计算结果(填写阿拉伯数字),如:三加四=7
Copyright © 2024 青岛森纳瑞精密仪器有限公司 版权所有