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分析型热场发射扫描电子显微镜

描述:SEM4000分析型热场发射扫描电子显微镜是一款分析型热场发射扫描电子显微镜,配备了高亮度、长寿命的肖特基场发射电子枪。三级磁透镜设计,束流大且连续可调,在EDS、EBSD、WDS等应用上具有明显优势。支持低真空模式,可直接观察导电性弱或不导电样品。标配的光学导航模式,以及直观的操作界面,让您的分析工作倍感轻松。

更新时间:2023-11-20
访问次数:542
厂商性质:代理商
详情介绍
产品特点
01

配备高亮度、长寿命的肖特基场发射电子枪

02

分辨率高,30 kV下优于1 nm的极限分辨率

03

三级磁透镜设计,束流可调范围大

04

*低真空模式,以及高性能的低真空二次电子探测器,可观察导电性弱或不导电样品

05

无漏磁物镜设计,可直接观察磁性样品

06

标配的光学导航模式,中文操作软件,让分析工作更轻松

应用案例

PA-玻纤复合材料

加速电压:10 kV / 放大倍率:×500

二氧化硅微球

加速电压:10 kV / 放大倍率:×80000

金属断口

加速电压:15 kV / 放大倍率:×5000

金属微观组织(铝铜焊接件)

加速电压:20 kV / 放大倍率:×10000

水菜花花粉

加速电压:10 kV / 放大倍率:×50000

钛酸锶钡陶瓷

加速电压:10 kV / 放大倍率:×10000

钛合金

加速电压:10 kV / 放大倍率:×5000

钛合金

加速电压:10 kV / 放大倍率:×10000

产品参数
关键参数分辨率1 nm @ 30 kV,SE
0.9 nm @ 30 kV, STEM
加速电压200 V ~ 30 kV
放大倍率1 ~ 1,000,000 x
电子枪类型肖特基场发射电子枪
样品室真空系统全自动控制
低真空模式(选配)最大180Pa
摄像头双摄像头(光学导航+样品仓内监控)
行程X:120 mm
Y:115 mm
Z:50 mm
T: -10°~ +90°
R: 360°
探测器和扩展标配侧向低角度电子探测器
选配低真空二次电子探测器
背散射电子探测器
STEM自动插入式扫描透射探测器
样品交换仓
EDS能谱仪
EBSD背散射衍射
EBIC电子束感生电流
CL阴极荧光
高低温原位拉伸台
纳米机械手
大图拼接
轨迹球&旋钮控制板
软件语言中文
操作系统Windows
导航光学导航、手势快捷导航
自动功能自动亮度对比度、自动聚焦、自动像散




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